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去耦電容工作原理
高手和前輩們總是告訴我們這樣的經(jīng)驗(yàn)法則:“在電路板的電源接入端放置一個(gè)110μF的電容,濾除低頻噪聲;在電路板上每個(gè)器件的電源與地線之間放置一個(gè)0.010.1μF的電容,濾除高頻噪聲?!痹跁昀锬軌虻玫降拇蠖鄶?shù)的高速PCB設(shè)計(jì)、高速數(shù)字電路設(shè)計(jì)的經(jīng)典教程中也不厭其煩的引用該首選法則(老外俗稱Rule of Thumb)。但是為什么要這樣使用呢?

       首先就我的理解介紹兩個(gè)常用的簡單概念。

        什么是旁路?旁路(Bypass),是指給信號(hào)中的某些有害部分提供一條低阻抗的通路。電源中高頻干擾是典型的無用成分,需要將其在進(jìn)入目標(biāo)芯片之前提前干掉,一般我們采用電容到達(dá)該目的。用于該目的的電容就是所謂的旁路電容(Bypass Capacitor,它利用了電容的頻率阻抗特性(理想電容的頻率特性隨頻率的升高,阻抗降低,這個(gè)地球人都知道),可以看出旁路電容主要針對(duì)高頻干擾(高是相對(duì)的,一般認(rèn)為20MHz以上為高頻干擾,20MHz以下為低頻紋波)。

        什么是退耦?退耦(Decouple), 最早用于多級(jí)電路中,為保證前后級(jí)間傳遞信號(hào)而不互相影響各級(jí)靜態(tài)工作點(diǎn)的而采取的措施。在電源中退耦表示,當(dāng)芯片內(nèi)部進(jìn)行開關(guān)動(dòng)作或輸出發(fā)生變化時(shí),需 要瞬時(shí)從電源在線抽取較大電流,該瞬時(shí)的大電流可能導(dǎo)致電源在線電壓的降低,從而引起對(duì)自身和其他器件的干擾。為了減少這種干擾,需要在芯片附近設(shè)置一個(gè) 儲(chǔ)電的“小水池”以提供這種瞬時(shí)的大電流能力。

       在電源電路中,旁路和退耦都是為了減少電源噪聲。旁路主要是為了減少電源上的噪聲對(duì)器件本身的干擾(自我保護(hù));退耦是為了減少器件產(chǎn)生的噪聲對(duì)電源的干擾(家丑不外揚(yáng))。有人說退耦是針對(duì)低頻、旁路是針對(duì)高頻,我認(rèn)為這樣說是不準(zhǔn)確的,高速芯片內(nèi)部開關(guān)操作可能高達(dá)上GHz,由此引起對(duì)電源線的干擾明顯已經(jīng)不屬于低頻的范圍,為此目的的退耦電容同樣需要有很好的高頻特性。本文以下討論中并不刻意區(qū)分退耦和旁路,認(rèn)為都是為了濾除噪聲,而不管該噪聲的來源。

         簡單說明了旁路和退耦之后,我們來看看芯片工作時(shí)是怎樣在電源線上產(chǎn)生干擾的。我們建立一個(gè)簡單的IO Buffer模型,輸出采用圖騰柱IO驅(qū)動(dòng)電路,由兩個(gè)互補(bǔ)MOS管組成的輸出級(jí)驅(qū)動(dòng)一個(gè)帶有串聯(lián)源端匹配電阻的傳輸線(傳輸線阻抗為Z0)。

          設(shè)電源引腳和地引腳的封裝電感和引線電感之和分別為:LvLg。兩個(gè)互補(bǔ)的MOS管(接地的NMOS和接電源的PMOS)簡單作為開關(guān)使用。假設(shè)初始時(shí) 刻傳輸在線各點(diǎn)的電壓和電流均為零,在某一時(shí)刻器件將驅(qū)動(dòng)傳輸線為高電平,這時(shí)候器件就需要從電源管腳吸收電流。在時(shí)間T1,使PMOS管導(dǎo)通,電流從PCB板上的VCC流入,流經(jīng)封裝電感Lv,跨越PMOS管,串聯(lián)終端電阻,然后流入傳輸線,輸出電流幅度為VCC/2×Z0)。電流在傳輸線網(wǎng)絡(luò)上持續(xù)一個(gè)完整的返回(Round-Trip)時(shí)間,在時(shí)間T2結(jié)束。之后整個(gè)傳輸線處于電荷充滿狀態(tài),不需要額外流入電流來維持。當(dāng)電流瞬間涌過封裝電感Lv時(shí),將在芯片內(nèi)部的電源提供點(diǎn)產(chǎn)生電壓被拉低的擾動(dòng)。該擾動(dòng)在電源中被稱之為同步開關(guān)噪聲(SSN,Simultaneous Switching Noise;SSO,Simultaneous Switching Output Noise)或Delta I噪聲。

       在時(shí)間T3,關(guān)閉PMOS管,這一動(dòng)作不會(huì)導(dǎo)致脈沖噪聲的產(chǎn)生,因?yàn)樵诖酥?/span>PMOS管一直處于打開狀態(tài)且沒有電流流過的。同時(shí)打開NMOS管,這時(shí)傳輸線、地平面、封裝電感Lg以及NMOS管形成一回路,有瞬間電流流過開關(guān)B,這樣在芯片內(nèi)部的地結(jié)點(diǎn)處產(chǎn)生參考電平點(diǎn)被抬高的擾動(dòng)。該擾動(dòng)在電源系統(tǒng)中被稱之為地彈噪聲(Ground Bounce,我個(gè)人讀著地tan)。

              實(shí)際電源系統(tǒng)中存在芯片引腳、PCB走線、電源層、底層等任何互聯(lián)機(jī)都存在一定電感值,因此上面就IC級(jí)分析的SSN和地彈噪聲在進(jìn)行Board Level分析時(shí),以同樣的方式存在,而不僅僅局限于芯片內(nèi)部。就整個(gè)電源分布系統(tǒng)來說(Power Distribute System)來說,這就是所謂的電源電壓塌陷噪聲。因?yàn)樾酒敵龅拈_關(guān)操作以及芯片內(nèi)部的操作,需要瞬時(shí)的從電源抽取較大的電流,而電源特性來說不能快速響應(yīng)該電流變化,高速開關(guān)電源開關(guān)頻率也僅有MHz量級(jí)。為了保證芯片附近電源在線的電壓不至于因?yàn)?/span>SSN和地彈噪聲降低超過器件手冊(cè)規(guī)定的容限,這就需要在芯片附近為高速電流需求提供一個(gè)儲(chǔ)能電容,這就是我們所要的退耦電容。

       所以電容重要分布參數(shù)的有三個(gè):等效聯(lián)電阻ESR 等效聯(lián)電感ESL 等效并聯(lián)電阻EPR Rp 。其中最重要的是ESR ESL,實(shí)際在分析電容模型的時(shí)候一般只用RLC簡化模型,即分析電容的CESR、ESL。因?yàn)榧纳鷧?shù)的影響,尤其是ESL的影響,實(shí)際電容的頻率特性表現(xiàn)出阻抗和頻率成“V”字形的曲線,低頻時(shí)隨頻率的升高,電容阻抗降低;當(dāng)?shù)阶畹忘c(diǎn)時(shí),電容阻抗等于ESR;之后隨頻率的升高,阻抗增加,表現(xiàn)出電感特性(歸功于ESL)。因此對(duì)電容的選擇需要考慮的不僅僅是容值,還需要綜合考慮其他因素。

         所有考慮的出發(fā)點(diǎn)都是為了降低電源地之間的感抗(滿足電源最大容抗的條件下),在有瞬時(shí)大電流流過電源系統(tǒng)時(shí),不至于產(chǎn)生大的噪聲干擾芯片的電源地引腳。

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