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在低功耗系統(tǒng)中MOS管的應(yīng)用 (amoBBS 阿莫電子論壇)
本帖最后由 miraclever 于 2012-8-8 17:12 編輯



又是一個關(guān)于低功耗應(yīng)用中的案例,這次是關(guān)于mos管的特性引發(fā)的一個小問題,呵呵,我比較喜歡將問題分析過程也發(fā)上來供大家參考,授人以漁不如授人以漁,我將整個過程分享給大家是希望大家能夠從中找到適合自己的知識點(diǎn),同時也不是直接告訴你不能這樣用,不能那樣用,我寫的類似一個小故事,大家耐心的看完就好像自己做了一次這樣的實(shí)驗一樣,這樣能夠加深印象,避免再次走彎路,同時一個好的工程師不應(yīng)該是首先要有足夠的耐心嗎?:)


這個案例跟上次我發(fā)的那個(關(guān)于低功耗設(shè)計的一個案例)一樣,同樣是應(yīng)用在低功耗產(chǎn)品上出現(xiàn)的問題,只是關(guān)于這個現(xiàn)象(姑且這樣叫,因為不是故障)大家要注意了,這個是mos管的一個特性,在特定的環(huán)境下會引發(fā)一些特殊的故障。
描述如下:按客戶要求設(shè)計一款可以待機(jī)90天的終端產(chǎn)品,這真是有點(diǎn)強(qiáng)人所難啊,同樣也是由于終端外殼的體積限制無法使用大容量的電池,最終選用了3.7V 2400mah的一款鋰電,由于此款終端客戶要求24小時激活一次,正常工作10分鐘,通過計算得知該款終端在休眠時電流必須在100ua一下,才能達(dá)到要求,經(jīng)過長時間的研究和論證得出硬件方案,理論上在深度休眠時終端電流可下降至50ua左右,滿足客戶要求,于是按正常流程走:原理圖-PCB-樣機(jī),樣機(jī)出來后,經(jīng)過測試排除一些設(shè)計上小bug(飛了n跳線,哈哈)基本上正常工作了,休眠電流在43ua,一次成功,非常興奮,對自己的佩服簡直是猶如滔滔江水連綿不絕啊,哈哈,但是,“首次打板樣機(jī)100%不可能一次成功定律”發(fā)揮了威力,樣機(jī)在進(jìn)行高溫(+75度)時出現(xiàn)了意外情況,測試人員反應(yīng),在高溫想加熱到75度時,終端無法進(jìn)入深度休眠,具體表現(xiàn)為10分鐘重啟一次,拿到常溫行冷卻一會就好了,聽到這個消息第一反應(yīng)就是肯定有元器件虛焊了,在高溫下焊點(diǎn)開裂,常溫下焊點(diǎn)又閉合,因為是手焊接的樣板這種現(xiàn)象一點(diǎn)也不奇怪,于是把相關(guān)深度休眠的電路部分重新用烙鐵焊一遍,再次放進(jìn)高溫箱進(jìn)行測試,結(jié)果現(xiàn)象依舊,看來不是虛焊的問題,介于這種故障現(xiàn)象還有一種可能就是某元器件的熱穩(wěn)定性不好,在高溫下失效,于是就用熱風(fēng)槍對著相關(guān)電路挨個吹,同時進(jìn)行電流電壓監(jiān)控,果然,在機(jī)器進(jìn)入休眠時,隨著熱風(fēng)槍的溫度升高的不斷升高,深度休眠開關(guān)Q10漏流逐漸加大,到了70度左右,該開關(guān)失效,如上圖所示,硬件工程師在設(shè)計電路時由于考慮到低功耗,所以使用的較多的場效應(yīng)管,由于MOS的特性,隨著溫度的升高其漏流會增加,隨著Q10漏電流的增加在R22上面產(chǎn)生的壓降就越大(由于MOS管屬于電壓控制器件其內(nèi)阻很大,可忽略不計),于是Q11這個低功耗主要控制器件就從截至狀態(tài)慢慢的進(jìn)入到了飽和導(dǎo)通狀態(tài),于是將原Q11更換為普通的NPN三極管故障排除(Q10漏電流不足導(dǎo)通三極管)。



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寫的很好,雖然還沒有工作,但是這種經(jīng)驗如果不知道的話,都是需要以后自己被折磨出來的。。。。感謝~~請教一下三級管和mos管的差別?在教科書上看到(《微電子學(xué)(上)》),說是三極管比較老,而mos管性能比較好,是未來的發(fā)展方向。但是我們在平時的時候使用的普遍都是三極管?請教一下為什么? ...

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在網(wǎng)上摘錄一段兩種管子的區(qū)別如下: 場效應(yīng)管與三極管的比較 1.場效應(yīng)管的源極S、柵極G、漏極D分別對應(yīng)于三極管的發(fā)射極E、基極B、集電極C,它們的作用相似。 2.場效應(yīng)管是電壓控制電流器件,由VGS控制iD,其放大系數(shù)gm一般較小,因此場效應(yīng)管的放大能力較差;三極管是電流控制電流器件,由iB(或iE)控制iC。驅(qū)動能力強(qiáng)。 3.場效應(yīng)管柵極幾乎不取電流(ig>>0);而三極管工作時基極總要吸取一定的電流。因此場效應(yīng)管的 ...

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謝謝提醒,這個設(shè)計中mos管本身只是作為一個開關(guān)來使用,并且開關(guān)時間是非常非常長的,達(dá)到24小時,所以不存在寄生電容影響,此電阻的功能僅僅是下拉而已,關(guān)鍵是存在著高溫下的漏電流的問題,如果采用了較小的下拉電阻那還是用三極管吧,再說這個設(shè)計本身也不是太嚴(yán)謹(jǐn),用mos管來驅(qū)動mos管需要注意的問題很多。 ...

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我覺得并不是溫度升高、漏電流增大的原因。而是溫度升高,閾值電壓降低的原因。如果INT控制腳是3.3V,而漏極是4V,常溫下MOS 0.7V的壓差不足以開啟MOS管。而溫度升高時,0.7V的壓差就足以使MOS管導(dǎo)通了。想測試真實(shí)的原因有兩個方法:1:把4V變成3.3V,看溫度升高是否還會導(dǎo)致飽和;2:把INT變成INPUT,然后溫度升高看是否飽和。我覺得這兩種改過之后的方法,溫升都不會影響MOS管狀態(tài)。MOS管的閾值對溫度才比較敏感,漏電流對溫度 ...

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你的INT點(diǎn)電壓是多少?如果INT是3.3V,而頂端電壓是4V,那應(yīng)該是由于溫升導(dǎo)致閾值電壓降低進(jìn)而導(dǎo)致了MOS管開關(guān)失效,進(jìn)而流過的電流自然就大了導(dǎo)致的。此時這個電流不是漏電流,而是因為閾值電壓降低導(dǎo)致的電流自然開啟導(dǎo)致的。另一個實(shí)驗辦法就是你可以把470K的電阻直接短路到地,然后升溫,看Q11的漏電流是不是升高。按理說,Q11和Q10都是SP的同系列的MOS管,溫度特性應(yīng)該一致,所以Q11如果溫度升高,漏電流也應(yīng)該增大。但是Q1 ...

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INT處的電壓也是4V的,此引腳是另外一個RTC電路提供的驅(qū)動,是由4V直接供電的。你說的非常好,這個問題值得我們深究一下。
 
 
在網(wǎng)上摘錄一段兩種管子的區(qū)別如下:
場效應(yīng)管與三極管的比較
1.場效應(yīng)管的源極S、柵極G、漏極D分別對應(yīng)于三極管的發(fā)射極E、基極B、集電極C,它們的作用相似。
2.場效應(yīng)管是電壓控制電流器件,由VGS控制iD,其放大系數(shù)gm一般較小,因此場效應(yīng)管的放大能力較差;三極管是電流控制電流器件,由iB(或iE)控制iC。驅(qū)動能力強(qiáng)。
3.場效應(yīng)管柵極幾乎不取電流(ig>>0);而三極管工作時基極總要吸取一定的電流。因此場效應(yīng)管的輸入電阻比三極管的輸入電阻高。
4.場效應(yīng)管只有多子參與導(dǎo)電;三極管有多子和少子兩種載流子參與導(dǎo)電,因少子濃度受溫度、輻射等因素影響較大,所以場效應(yīng)管比三極管的溫度穩(wěn)定性好、抗輻射能力強(qiáng)。在環(huán)境條件(溫度等)變化很大的情況下應(yīng)選用場效應(yīng)管。
5.場效應(yīng)管在源極未與襯底連在一起時,源極和漏極可以互換使用,且特性變化不大;而三極管的集電極與發(fā)射極互換使用時,其特性差異很大, b
   值將減小很多。
6.場效應(yīng)管的噪聲系數(shù)很小,在低噪聲放大電路的輸入級及要求信噪比較高的電路中要選用場效應(yīng)管。
7.場效應(yīng)管和三極管均可組成各種放大電路和開關(guān)電路,但由于前者制造工藝簡單,且具有耗電少,熱穩(wěn)定性好,工作電源電壓范圍寬等優(yōu)點(diǎn),因而被廣泛用于大規(guī)模和超大規(guī)模集成電路中。
總起來說,在設(shè)計場效應(yīng)管電路時需要考慮的更多,比如由于其輸入阻抗高,就必須要考慮電路的抗干擾性能,正是因為輸入阻抗太高所以小小的一點(diǎn)干擾即可造成mos管的一個動作,還有就是場效應(yīng)管無法做到像三極管那么高的電壓,當(dāng)然現(xiàn)在的三極管和場效應(yīng)管復(fù)合型器件IGBT已經(jīng)能做到很高的電壓了,mos管由于其特性比較適合做開關(guān)用,在低功耗產(chǎn)品中比三極管有優(yōu)勢。
 
 
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