如何選擇采樣技術(shù)
[圖示內(nèi)容:]
Waveform Constructed with Record Points: 使用多個(gè)記錄點(diǎn)構(gòu)建的波形
1st Acquisition Cycle: 第一個(gè)采集周期
2nd Acquisition Cycle: 第二個(gè)采集周期
3rd Acquisition Cycle: 第三個(gè)采集周期
nth Acquisition Cycle: 第n個(gè)采集周期
從技術(shù)上說,生成非常短、非常精確的“Dt”要比隨機(jī)采樣器要求的準(zhǔn)確測(cè)量樣點(diǎn)相對(duì)于觸發(fā)點(diǎn)的垂直位置和水平位置更容易。這個(gè)精確測(cè)量的延遲為順序采樣器提供了更好的時(shí)間分辨率。
最后,我們對(duì)照比較一下實(shí)時(shí)示波器和采樣示波器:
實(shí)時(shí)示波器
·只要求一次觸發(fā),可以在“single-shot”(單次)模式下捕獲信號(hào)
·電壓輸入范圍更高(5V,而等效時(shí)間示波器為1V)
·長(zhǎng)存儲(chǔ)深度,適合進(jìn)行調(diào)試(例如,可以觀察相鄰數(shù)據(jù)點(diǎn)中的瞬態(tài)事件)
采樣示波器
·實(shí)時(shí)示波器擁有高達(dá)30+ GHz的帶寬,但采樣示波器的帶寬更高,達(dá)70+ GHz
·噪聲/抖動(dòng)本底更低(低于200 ps rms)
·適合進(jìn)行檢定。例如,TDR(時(shí)域反射計(jì))等擁有重復(fù)性特點(diǎn)的應(yīng)用
作者:電子工程專輯博主越測(cè)越開心
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