芯片后端——封裝(Package)→完整測試(Initial Test and Final Test)
光刻是在晶圓上印制芯片電路圖形的工藝,是集成電路制造的最關(guān)鍵步驟,在整個芯片的制造過程中約占據(jù)了整體制造成本的35%。
晶圓襯底是純硅材料,不導(dǎo)電或?qū)щ娦詷O弱。為了在芯片內(nèi)具有導(dǎo)電性,必須在晶圓里摻入微量的不純物質(zhì),通常是砷、硼、磷。摻雜可以在擴(kuò)散爐中進(jìn)行,也可以采用離子注入實現(xiàn)。一些先進(jìn)的應(yīng)用都是采用離子注入摻雜的。其實,最主要的目的是生成N溝道或P溝道。這個摻雜過程創(chuàng)建了全部的晶體管及彼此間的電路連接,沒個晶體管都有輸入端和輸出端,兩端之間被稱作端口。
化學(xué)機(jī)械研磨(化學(xué)機(jī)器磨光,CMP)兼具有研磨性物質(zhì)的機(jī)械式研磨與酸堿溶液的化學(xué)式研磨兩種作用,可以使晶圓表面達(dá)到全面性的平坦化,以利后續(xù)薄膜沉積之進(jìn)行。在CMP制程的硬設(shè)備中,研磨頭被用來將晶圓壓在研磨墊上并帶動晶圓旋轉(zhuǎn),至于研磨墊則以相反的方向旋轉(zhuǎn)。在進(jìn)行研磨時,由研磨顆粒所構(gòu)成的研漿會被置于晶圓與研磨墊間。
檢測主要包括三類:光學(xué)檢測、薄膜檢測、關(guān)鍵尺寸掃描電子檢測(CD-SEM)。晶圓檢測的一個重要發(fā)展趨勢是將多種測量方法融合于一個工藝設(shè)備中。
晶圓上的芯片在這里被切割成單個芯片,然后進(jìn)行封裝,這樣才能使芯片最終安放在PCB板上。這里需要用的設(shè)備包括晶圓切割機(jī),粘片機(jī)(將芯片封裝到引線框架中)、線焊機(jī)(負(fù)責(zé)將芯片和引線框架的連接,如金絲焊和銅絲焊)等。
芯片做好了,到了電工手里,經(jīng)過熟練地焊接工藝,鑲嵌在PCB上,最終變成了電子產(chǎn)品的心臟。
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